产品中心
Product Center品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 食品,化工,生物产业,石油,制药 | 控制主机数量 | 1台 |
反应罐数量 | 8只(30ml,50ml共8只) | 样品反应瓶数量 | 1只 |
双层石英冷阱数量 | 1个 | 汞灯功率调节范围 | 0~1000W可连续调节 |
光化学反应装置CY-GHX-DC技术参数:
型号:CY-GHX-DC多功能控温光化学反应仪
(一)主体部分
1.光源功率可连续调节大小。
2.集成式光源控制器,可供汞灯、氙灯、金卤灯等多种光源使用。
3.汞灯功率调节范围:0~1000W可连续调节。
4.氙灯功率调节范围:0~1000W可连续调节。
5.金卤灯功率调节范围:0~500W可连续调节。
(二)小容量反应部分
1.石英试管规格:30ml、50ml(或定做)。
2.可同时处理8个样品(或定做)。
3.八位磁力搅拌装置可同步调节8个样品的搅拌速度。
(三)大容量反应部分
1.玻璃反应器皿可以分别选用250ml、500ml、1000ml等(或定做)。
2.大功率强力磁力搅拌器使样品充分混匀受光。
(四)控温装置
1.冷却水循环装置制冷量:>1000W
2.控温范围:-5°C到100°C
3.冷却水循环装置设有脚轮和底部排液阀。
大容量光化学反应仪产品配置:
配置单 | 数 量 |
控制主机 | 1台 |
反应暗箱 | 1台 |
光源控制器 | 1台 |
双层石英冷阱 | 1个 |
汞灯(1000W) | 1支 |
氙灯(1000W) | 1支 |
金卤灯(500W) | 1支 |
搅拌装置 | 1套 |
样品反应瓶 | 1只(250ml,500ml,1000ml可选) |
反应罐 | 8只(30ml,50ml共8只) |
光化学反应装置CY-GHX-DC光化学过程是地球上普遍、量重要的过程之一,绿色植物的光合作用,动物的视觉。涂料与高分子材料的光致变性,以及照相、光刻、有机化学反应的光催化等,无不与光化学过程有关。
近年来得到广泛重视的同位素与相似元素的光致分离、光控功能体系的合成与应用等,更体现了光化学是一个活跃的领域。光化学反应与一般热化学反应相比有许多不同之处,主要表现在:加热使分子活化时,体系中分子能量的分布服从玻耳兹曼分布;而分子受到光激活时,原则上可以做到选择性激发。体系中分子能量的分布属于非平衡分布。所以光化学反应仪的途径与产物往往和基态热化学反应不同。
光化学研究反应机理的常用实验方法,除示踪原子标记法外,在光化学中早采用的猝灭法仍是有效的一种方法。这种方法是通过被激发分子所发荧光,被其他分子猝灭的动力学测定来研究光化学反应机理的。它可以用来测定分子处于电子激发态时的酸性、分子双聚化的反应速率和能量的长程传递速率。
由于吸收给定波长的光子往往是分子中某个基团的性质,所以光化学提供了使分子中某特定位置发生反应的手段,对于那些热化学反应缺乏选择性或反应物可能被破坏的体系更为可贵。光化学反应的另一特点是用光子为试剂。
光化学的初级过程是分子吸收光子使电子激发,分子由基态提升到激发态。分子中的电子状态、振动与转动状态都是量子化的,即相邻状态间的能量变化是不连续的。因此分子激发时的初始状态与终止状态不同时,所要求的光子能量也是不同的,而且要求二者的能量值尽可能匹配。
光物理过程可分为辐射弛豫过程和非辐射弛豫过程。辐射弛豫过程是指将整体或部分多余的能量以辐射能的形式耗散掉,分子回到基态的过程,如发射荧光或磷光;非辐射弛豫过程是指多余的能量整体以热的形式耗散掉,分子回到基态的过程。
决定一个光化学反应仪的真正途径往往需要建立若干个对应于不同机理的假想模型。找出各模型体系与浓度、光强及其他有关参量间的动力学方程,然后考察实验结果的相符合程度,以决定哪一个是可能的反应途径。一旦被反应物吸收后,不会在体系中留下其他新的杂质,因而可以看成是“纯"的试剂。
光化学反应仪CY品牌系列主要用于研究气相或液相介质、固定或流动体系、紫外光或模拟可见光照、以及反应容器是否负载光催化剂等条件下的光化学反应。具有提供分析反应产物和自由基的样品,测定反应动力学常数,测定量子产率等功能,广泛应用化学合成、环境保护以及生命科学等研究领域。
目前,各种干扰在各类工业现场中均存在,所以仪表及控制系统的可靠性直接影响到现代化工业生产装置安全、稳定运行,系统的抗干扰能力是关系到整个系统可靠运行的关键。随着DCS、现场总线技术的应用,被控对象和被测信号往往分布在各个不同的地方,并且他们与控制站之间也有相当长的距离,因此,信号线和控制线均可能是长线。其次,现场往往有许多强电设备,它们的启动和工作将对测控系统产生强烈的影响。同时来自空间的辐射干扰、系统外引线干扰等问题尤为突出。因此,除有用信号外,由于各种原因必然会有一些与被测信号无关的电流或电压存在,这种无关的电流或电压通称“干扰(噪声)"。在测量过程中,这些干扰若不能很好地处理,那它将歪曲测量结果,严重时甚至使仪表或计算机不能工作。大量实践说明,抗干扰性能是各种电子测量装置的一个很重要的问题,尤其是DCS、现场总线技术的广泛应用和迅速发展,有效地排除和抑制各种干扰,已成为必需探讨和解决的迫切问题,因为干扰不仅能造成逻辑混乱,使系统测量和控制失灵,以致降低产品的质量,甚至使生产设备损坏,造成事故。因此,抗干扰技术在仪表测控系统的设计、制造、安装和日常维修中都必需给予足够的重视。